2021/04/15

濃厚スラリーにおける粒子界面評価の重要性

 

濃厚分散系の制御には希釈せずに濃厚系のまま粒子-溶媒界面の特性を評価する必要があります。
現在、希釈せずに評価できる手法として、ゼータ電位をはじめ、沈降法、パルスNMR法、X線小角散乱法など種々の評価法が実際に使われております。
本講では、界面状態の特性値として用いられるパラメータや評価法の基礎およびその応用例について説明させて頂きます。

 

【セミナー概要】

主  催:マジェリカ・ジャパン株式会社、MSサイエンティフィック株式会社
開催日時:2021年5月25日(火) 13:00 – 15:30 
開催形式:WEBセミナー形式(Zoomウェビナーを使用)
定  員:200名 (好評のため、定員を増やしました。満席になり次第締め切らせて頂きます)  

参 加 費: 無 料

 

【プログラム】

13:00 - 14:30 「濃厚スラリーにおけるin situ 粒子界面状態評価法 -基礎と実例-」 

講師 武田コロイドテクノ・コンサルティング株式会社
         武田 真一 先生

14:30 - 14:40 休憩

14:40 - 15:25 「パルスNMRによる濃厚分散体および粉体の濡れ性評価」

講師 マジェリカ・ジャパン株式会社
         池田 純子 様

 

【お申込み】

下記Zoomウェビナー参加用フォームより、お申込ください。
皆様のご参加をお待ちしております。

 → https://us02web.zoom.us/webinar/register/WN_bVthBIL0RYacipsmPpocMg