濃厚スラリーにおける粒子界面評価の重要性

濃厚分散系の制御には希釈せずに濃厚系のまま粒子-溶媒界面の特性を評価する必要があります。
現在、希釈せずに評価できる手法として、ゼータ電位をはじめ、沈降法、パルスNMR法、X線小角散乱法など種々の評価法が実際に使われております。
本講では、界面状態の特性値として用いられるパラメータや評価法の基礎およびその応用例について説明させて頂きます。

【セミナー概要】

主　　催：マジェリカ・ジャパン株式会社、MSサイエンティフィック株式会社
開催日時：2021年5月25日（火） 13:00 – 15:30 
開催形式：WEBセミナー形式(Zoomウェビナーを使用)
定　　員：200名　⇒満席になりましたので、受付を終了させていただきます。ありがとうございました。
参 加 費： 無　料

【プログラム】

13:00 - 14:30 「濃厚スラリーにおけるin situ 粒子界面状態評価法　-基礎と実例-」　

講師　武田コロイドテクノ・コンサルティング株式会社
         武田　真一　先生

14:30 - 14:40　休憩

14:40 - 15:25 「パルスNMRによる濃厚分散体および粉体の濡れ性評価」

講師　マジェリカ・ジャパン株式会社
         池田　純子 様